群脈沖發(fā)生器測試時，有L1、L2、L3、N及PE等端口。PE和大地是兩個概念,電快速脈沖干擾是共模性質(zhì)的，在標準提供的實驗設(shè)置圖中可以看到從試驗發(fā)生器來的信號電纜芯線通過可供選擇的耦合電容加到相應(yīng)的電源線（L1、L2、L3、N及PE）上，信號電纜的屏蔽層則和耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的機殼相連，機殼則接到參考接地端子上。

這就表明脈沖群干擾實際上是加在電源線與參考大地之間，因此加在電源線上的干擾是共模干擾， 而對于采用耦合夾的實驗方式來說，電快速脈沖將通過耦合板與受試電纜之間的分布電容進入受試電纜，而受試電纜所接收到的脈沖仍然是相對參考接地板來說的。

因此，通過耦合夾對受試電纜所施加的干擾仍然是共模性質(zhì)的。確定了干擾的性質(zhì)，那么我們就可以采取相應(yīng)的措施使設(shè)備順利通過實驗。那么我們不難看出，電源濾波器中所使用的X電容（差模電容）對于EFT干擾是沒有抑制作用的。(這段本人不同意作者的提法，eft表面看是共模，實際上有耦合到線上的干擾不平衡，這就是差模。Cx差模電容作用不大，是因為，脈沖群主要是高頻，差模電容在高頻是已經(jīng)諧振完了，不再是純?nèi)菪云骷?-劉淵正注)

如果設(shè)備是金屬外殼，Y電容（共模電容）會起作用，將高頻EFT旁路到外殼上面，然后通過設(shè)備外殼和參考地間的分布電容回到信號源，從而不會進入電路。

電快速脈沖干擾導致設(shè)備失效的機理根據(jù)國外學者對脈沖群干擾造成設(shè)備失效的機理的研究，單個脈沖的能量較小，不會對設(shè)備造成故障。但脈沖群干擾信號對設(shè)備線路結(jié)電容充電，當上面的能量積累到一定程度之后，就可能引起線路（乃至系統(tǒng)）的誤動作。

因此，線路出錯會有個時間過程，而且會有一定偶然性（不能保證間隔多少時間，線路一定出錯，特別是當試驗電壓達到臨界點附近時）。而且很難判斷究竟是分別施加脈沖，還是一起施加脈沖，設(shè)備更容易失效。也很難下結(jié)論設(shè)備對于正向脈沖和負向脈沖哪個更為敏感。

實踐表明，一臺設(shè)備往往是某一條電纜線，在某一種試驗電壓，對某個極性特別敏感。實驗顯示，信號線要比電源線對電快速脈沖干擾敏感得多。

設(shè)備通過電快速脈沖測試的有效措施首先我們先分析一下干擾的注入方式：EFT干擾信號是通過耦合去耦網(wǎng)絡(luò)中的33nF的電容耦合到主電源線上面（而信號或控制電纜是通過電容耦合夾施加干擾，等效電容是100pF）。對于33nF的電容，它的截止頻率為100K，也就是100KHZ以上的干擾信號可以通過；而100pF的電容，截止頻率為30M，僅允許30MHz頻率以上的干擾通過。電快速脈沖的干擾波形為5ns/50ns，重復頻率5K，脈沖持續(xù)時間15ms，脈沖群重復周期300ms。根據(jù)傅立葉變換，它的頻譜是從5K--100M的離散譜線，每根譜線的距離是脈沖的重復頻率。

知道以上幾點，施加干擾的耦合電容扮演了一個高通濾波器的角色，因為電容的阻抗隨著頻率的升高而下降，那么干擾中的低頻成分不會被耦合到EUT，而只有頻率較高的干擾信號才會進入EUT。當我們在EUT電路中再加入共模電感（特別要注意的是，這里的共模電感一定要加在主電源線及其回線上，否則會發(fā)生飽和從而達不到衰減干擾的目的）就可以衰減掉一些高頻干擾成分，因為電感的阻抗隨著頻率的增加而升高。因此，實際施加到EUT上面的干擾信號只有中間頻率部分。

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SFT 2400: 125kHz / 5.0kV / 觸摸屏

SFT 2420: 2MHz / 4.8kV / 觸摸屏

SFT 1400-1: 125kHz / 5.0kV

SFT 1420-1: 2MHz / 4.8kV