EMC作為產(chǎn)品的一個特性，譯為電磁兼容性；如果作為一門學(xué)科，則譯為電磁兼容。它包括兩個概念：EMI和EMS。

　　EMI電磁干擾，指自身干擾其它電器產(chǎn)品的電磁干擾量。EMS電磁敏感性，也有稱為電磁抗擾度，是指能忍受其它電器產(chǎn)品的電磁干擾的程度。

　　在開發(fā)電子產(chǎn)品的過程中，電磁干擾EMI（Electro Magnetic Interference）是工程師們不得不考慮的問題。電磁干擾（EMI）可能會導(dǎo)致許多問題，尤其是在產(chǎn)品開發(fā)階段或產(chǎn)品驗(yàn)收階段。如果電路設(shè)計(jì)受到電磁干擾的影響，可能會出現(xiàn)亂碼顯示，數(shù)據(jù)接觸不良或者是其他線路故障。為了最大限度地減少電磁干擾的影響，各個國家的政府機(jī)構(gòu)都制定并實(shí)施了針對各個產(chǎn)品類型的EM輸出的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)，一般我們稱為電磁兼容性（EMC）測試。所有電子相關(guān)的產(chǎn)品在上市前必須強(qiáng)制性通過電磁兼容性測試。

　　許多EMC兼容測試失敗的原因主要來源于電路中的射頻能量泄漏和電路板設(shè)計(jì)本身的相互影響。引起這種干擾的電場和磁場肉眼是不可見的，并且當(dāng)我們想要深究其原因以期能最小化EMI影響時(shí)，往往會發(fā)現(xiàn)，問題是非常復(fù)雜的。

　　是什么導(dǎo)致了這個問題？造成輻射干擾的信號或能量來源在哪里？我該如何解決？

　　我們可以通過一些簡單的工具和技術(shù)來幫助識別EMI干擾源。一旦確定了干擾源，我們就可以開始著手解決問題。那么怎么去找出干擾源呢？我們需要用到一種技術(shù)，這種技術(shù)不是嚴(yán)格意義上的標(biāo)準(zhǔn)EMC兼容測試，而是一種預(yù)測試，它可以幫助我們快速找到干擾源可能存在的地方，并且不需要昂貴的專業(yè)設(shè)備和實(shí)驗(yàn)室裝置。

　　在本篇應(yīng)用指南中，我們將介紹一些常用的預(yù)兼容測試相關(guān)的技術(shù)，例如使用近場探頭來查找可能的EMI泄漏源。此項(xiàng)技術(shù)可以快速地識別問題，有效地節(jié)約時(shí)間和經(jīng)濟(jì)成本。

　　需要注意的是，預(yù)一致性測試旨在于幫助識別和解決可能會阻礙EMC認(rèn)證的問題，并不能替代認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室的EMC合規(guī)測試。

　　1.電磁輻射基礎(chǔ)知識

　　電磁輻射最常見的產(chǎn)生方式是導(dǎo)體中電流的突變或者電壓的驟升，輻射的路徑通過PCB走線，器件的引腳，連接器或者是其它的金屬介質(zhì)，包括機(jī)箱，機(jī)架或者是產(chǎn)品的外殼。電磁輻射實(shí)際上是指電場和磁場的相互作用，相互影響。它常常被這樣描述：正交時(shí)變的電場和磁場的傳播，如下圖1所示。

　　圖1圖左上角是電磁波的傳播，注意，電場和磁場是互相正交的

　　圖2由電流產(chǎn)生的磁場

　　和磁場不一樣，電場由移動或者靜止的電荷產(chǎn)生。因此，當(dāng)在散熱片或金屬外殼等諸如此類導(dǎo)電體的表面上產(chǎn)生電磁輻射時(shí)，電場產(chǎn)生的輻射會居于主導(dǎo)地位。電場產(chǎn)生的影響也傾向于遠(yuǎn)離源（遠(yuǎn)場）。某些環(huán)境因素如無線電臺，wifi或者是人為的射頻干擾信號，都使得遠(yuǎn)場測量更容易出現(xiàn)錯誤。遠(yuǎn)場測量，比如說某個兼容測試中的信號發(fā)射部分的測量，要求測量者擁有比進(jìn)行近場測量更復(fù)雜的設(shè)備和更豐富的知識。

　　通過測量由導(dǎo)體產(chǎn)生的電磁場的幅值和頻率，我們可以找出最可能導(dǎo)致EMI干擾問題的區(qū)域。

　　2.設(shè)備清單

　　以下是一些用于近場故障排除的基礎(chǔ)設(shè)備清單：頻譜儀/EMI接收機(jī)：測量相對于頻率的RF功率。頻譜儀的最高輸入頻率應(yīng)該不低于1GHz,DANL為-100dBm(-40dBuV)或者更小，RBW不低于10kHz。

　　近場探頭：分為磁場近場探頭和電場近場探頭。

　　磁場探頭：磁場發(fā)射源通常來自芯片組引腳、印刷電路板導(dǎo)線、電源線或信號線，或沒有良好接地的金屬蓋。磁場探頭的感應(yīng)元件是一個與發(fā)射導(dǎo)線或電線電感耦合的簡易線圈。磁場探頭在它的回路與載流電線對齊時(shí)，提供頻譜分析儀的最大輸出電壓。在診斷EMI的故障時(shí)，工程師需要在被測器件的表面旋轉(zhuǎn)和移動探頭，以確定探頭在功率讀數(shù)達(dá)到最大值時(shí)的位置，同時(shí)避免遺漏重要的發(fā)射源。

　　電場探頭：電場主要來源于未使用負(fù)載端接的電纜和電線，以及通向高阻抗邏輯電路的印刷電路板導(dǎo)線(可能是邏輯集成電路的高阻抗輸入或三相輸出)。電場探頭實(shí)質(zhì)上就是一個小型天線。電場探頭能夠很方便地探測空中信號，例如蜂窩下行鏈路信號。這些大功率空中信號可能需要增加衰減，以防頻譜分析儀過載。不過，增加衰減將會影響頻譜分析儀的靈敏度。

　　50歐姆同軸線纜：使用與近場探頭和頻譜分析儀RF輸入口相匹配的線纜。如果需要的話，探頭，同軸線纜，連接器可以同時(shí)配套購買。

　　3.連接方式

　　4.結(jié)論

　　近場電磁干擾(EMI)測試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測試中的一個重要工具。用戶可考慮各種近場探頭在定位和測試可能的發(fā)射源以及診斷其故障等方面的不同優(yōu)勢，選擇適合的近場探頭執(zhí)行這一測試。

我們的優(yōu)勢：是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、普源、同惠、鼎陽、安柏等。